• <fieldset id="imuyy"><menu id="imuyy"></menu></fieldset><ul id="imuyy"><dfn id="imuyy"></dfn></ul>
    <fieldset id="imuyy"><menu id="imuyy"></menu></fieldset>
  • <abbr id="imuyy"></abbr>
    <fieldset id="imuyy"></fieldset><fieldset id="imuyy"><menu id="imuyy"></menu></fieldset>
    <strike id="imuyy"></strike>

    全站搜索 產品中心 新聞中心

    一、ICT的基本概念與應用場景

    定義: ?

    ICT(In-Circuit Test,在線測試)是一種針對PCB(印刷電路板)及焊接在其上的電子元件進行電氣性能檢測的技術,通過直接接觸電路板上的測試點(焊盤),對元件參數、電路連接等進行自動測試。  

    應用場景: ?

    主要用于電子制造業(yè)的生產環(huán)節(jié),如PCB組裝(PCBA)后的質量檢測,可快速定位焊接不良、元件失效、線路短路/開路等問題,提高生產效率和良品率。

    二、ICT測試的核心硬件組成

    1. ICT測試機 ?

       – 核心控制單元,包含處理器、測試程序存儲器和數據采集系統(tǒng)。  

       – 可生成測試信號(如電流、電壓)并接收反饋信號,通過算法分析判斷電路狀態(tài)。  

    2. 測試探針板(Fixture) ?

       – 由數百至上千個探針(Pogo Pin)組成,探針尖端精準接觸電路板上的測試點。  

       – 探針通過導線與測試機的信號源和測量模塊連接,形成電氣通路。  

    3. 電源與信號源 ?

       – 提供測試所需的直流電源或交流信號(如正弦波、方波),用于激勵被測電路。  

    4. 數據采集與分析模塊 ?

       – 實時采集測試點的電壓、電流、阻抗等參數,與預設標準值對比,生成測試報告。  

    三、ICT測試的核心原理與流程

    (一)測試前的準備:編程與夾具設計

    1. 測試程序開發(fā)  

       – 基于電路板的原理圖和PCB設計文件,定義每個測試點對應的元件參數、測試條件(如測試電壓、電流范圍)。  

       – 示例:對電阻R1的測試程序需設定“測試電流1mA,預期電阻值100Ω±5%”。  

    2. 探針板設計  

       – 根據測試點位置布局探針,確保每個測試點對應一個探針,且探針壓力適中(避免損傷焊盤)。  

    (二)測試執(zhí)行流程

    1. 電路板安裝  

       – 將PCBA固定在測試夾具上,探針通過機械壓力與測試點緊密接觸,形成電氣連接。  

    2. 開路與短路測試(連通性測試)  

       – 原理:通過測試機向電路施加低電壓(如5V)或小電流,測量各測試點之間的阻抗。  

       – 判斷邏輯:  

         – 開路(Open):阻抗大于閾值(如10MΩ),說明線路斷開或元件未焊接;  

         – 短路(Short):阻抗小于閾值(如1Ω),說明線路或元件間異常導通。  

    3. 元件參數測試  

       – 針對電阻、電容、電感、二極管、晶體管等元件,通過施加激勵信號并測量響應,判斷元件是否符合規(guī)格。  

       – 具體測試方法:

    元件類型測試原理示例
    電阻施加恒定電流,測量兩端電壓,計算阻值(R=V/I)。對 100Ω 電阻,通 1mA 電流,若電壓為 0.1V±5% 則合格。
    電容施加交流信號(如 1kHz 正弦波),測量容抗(Xc=1/(2πfC)),計算電容值。對 10μF 電容,實測值需在 9.5μF~10.5μF 范圍內。
    二極管施加正向電壓(如 0.7V),測量正向電流;施加反向電壓,測量反向漏電流。正向電流應大于 1mA,反向漏電流應小于 1μA。
    電感施加交流信號,測量感抗(XL=2πfL),計算電感值,或通過 LC 諧振電路測試。對 100μH 電感,在 10kHz 頻率下感抗應約為 6.28Ω。

    4. 邊界掃描測試(Boundary Scan,如JTAG)  

       – 針對IC芯片的引腳連接測試,通過芯片內部的邊界掃描單元(BSC)發(fā)送測試信號,檢測引腳與電路板的焊接質量。  

    (三)測試結果分析與故障定位

    – 測試機根據預設標準判斷每個測試點的結果(Pass/Fail),并生成報告。  

    – 若發(fā)現故障(如某電阻阻值超標),系統(tǒng)會標記具體位置(如“R10阻值偏大”),便于維修人員快速定位。  

    四、ICT測試的優(yōu)勢與局限性

    1. 優(yōu)勢  

       – 高效率:可同時測試數百個元件,單塊電路板測試時間通常在幾秒到一分鐘內。  

       – 高精度:對元件參數的測量精度可達±1%~±5%,適用于精密電路檢測。  

       – 自動化:無需人工干預,減少人為誤差,適合批量生產。  

    2. 局限性  

       – 測試點依賴:需在PCB上預留測試點,可能增加電路板設計復雜度。  

       – 功能測試不足:僅能檢測元件參數和連通性,無法驗證電路整體功能(需配合功能測試FT)。  

       – 復雜芯片測試困難:對BGA、QFN等封裝的芯片,難以通過探針直接接觸測試。  

    通過以上原理,ICT實現了對電路板電氣性能的高效檢測,是電子制造業(yè)質量控制的關鍵環(huán)節(jié)之一。

    上一篇: 下一篇:

    相關推薦

    • AOI和首件檢測的區(qū)別

      32

      在SMT(表面貼裝技術)生產制程中,AOI(自動光學檢測)和首件檢測是兩種不同的質量控制手段,在檢測階段、技術原理、應用場景等方面存在明顯差異。以下是具體對比: 一、核心定義與技術原理 AOI(自動光學檢測) 定義:通過光學攝像頭對PCB(印刷電路板)上...

      查看全文
    • ICT測試和首件檢測的區(qū)別

      127

      一、定義與目的二、測試時機與場景三、測試內容與方法四、測試特點與作用五、成本與適用場景 在SMT(表面貼裝技術)生產制造里,ICT測試和首件檢測區(qū)別顯著,具體如下: ...

      查看全文
    • 針床式ICT 與飛針式ICT 的優(yōu)缺點對比

      27

      一、針床式在線測試(In-Circuit Test,簡稱 ICT) 定義:通過定制化的測試治具(針床夾具),利用探針陣列與PCB上的測試點接觸,實現電路連通性、元件參數等全面測試。 優(yōu)點: 測試效率高 測試精度與可靠性高 自動化程度高 長期成本低(...

      查看全文
    • ICT測試誤報率產生的原因

      98

      ICT(In - Circuit Test,在線測試)誤報率受多種因素影響,以下從治具、程序、系統(tǒng)與環(huán)境、PCB 本身等方面詳細說明: ,

      查看全文

    0